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BGA元器件及其返修工艺

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发表于 2010-9-12 14:56:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

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  1概述
4 X3 c3 d. c0 E9 B8 p4 J
6 V/ y8 m: |3 v# |1 @6 f
  随着电子产品向小型化、便携化、网络化和高性能方向的发展,对电路组装技术和I/O引线数提出了更高的要求,芯片的体积越来越小,芯片的管脚越来越多,给生产和返修带来了困难。原来SMT中广泛使用的QFP(四边扁平封装),封装间距的极限尺寸停留在0.3mm,这种间距其引线容易弯曲、变形或折断,相应地对SMT组装工艺、设备精度、焊接材料提出严格的要求,即使如此,组装窄间距细引线的QFP,缺陷率仍相当高,最高可达6000ppm,使大范围应用受到制约。近年出现的BGA(Ball Grid Array 球栅阵列封装器件),由于芯片的管脚不是分布在芯片的周围而是分布在封装的底面,实际是将封装外壳基板原四面引出的引脚变成以面阵布局的pb/sn凸点引脚,这就可以容纳更多的I/O数,且可以较大的引脚间距如1.5、1.27mm代替QFP的0.4、0.3mm,很容易使用SMT与PCB上的布线引脚焊接互连,因此不仅可以使芯片在与QFP相同的封装尺寸下保持更多的封装容量,又使I/O引脚间距较大,从而大大提高了SMT组装的成品率,缺陷率仅为0.3?5ppm,方便了生产和返修,因而BGA元器件在电子产品生产领域获得了广泛使用。
6 P5 q+ l; C& d
  随着引脚数增加,对于精细引脚在装配过程中出现的桥连、漏焊、缺焊等缺陷,利用手工工具很难进行修理,需用专门的返修设备并根据一定的返修工艺来完成。
" _( u$ o" @/ \3 |+ H3 G& z5 a2 @
  2 BGA元器件的种类与特性
1 G* K, V5 v* N6 G* N4 I
  2.1 BGA元器件的种类
+ h) |) h( l( x
  按封装材料的不同,BGA元件 主要有以下几种:
! t' d9 O: X/ q% j3 ?- y

  PBGA(plastic BGA?塑料封装的BGA)
  CBGA(ceramic BGA?陶瓷封装的BGA)
  CBGA?ceramic column BGA?陶瓷柱状封装的BGA?
  TBGA(tape BGA? 载带状封装的BGA)
  CSP(Chip Scale Package或μBGA)
  PBGA是目前使用较多的BGA,它使用63Sn/37Pb成分的焊锡球,焊锡的溶化温度约为183°C。焊锡球直径在焊接前直径为0.75毫米,回流焊以后,焊锡球高度减为0.46-0.41毫米。PBGA的优点是成本较低,容易加工,不过应该注意,由于塑料封装,容易吸潮,所以对于普通的元件,在开封后一般应该在8小时内使用,否则由于焊接时的迅速升温,会使芯片内的潮气马上气化导致芯片损坏,有人称此为“ 苞米花” 效应。按照JEDEC的建议,PBGA芯片在拆封后必须使用的期限由芯片的敏感性等级决定(见表1): 表1 PBGA芯片拆封后必须使用的期限
w$ M+ W$ l* q; m2 m3 P+ ~" w

) g0 F7 C: |1 G9 ~: S+ c$ K3 }, w" A( c: g7 E( X+ d9 I+ T, C) Y: K. l6 r( a0 q6 { G) |3 P. o9 x6 l2 L7 ]! h, R* n! U/ j9 h& ~% Q8 e9 d- Q( t0 w# h, n0 i' s( e% N) a: e6 |! r3 O* m0 p" J& ]8 t$ [( B& Y3 k- p# P% U+ J6 I) U" l) t+ Q6 D* q* S4 I+ s8 V/ F5 k" }* o6 a. |. e) w4 I( r" |! S& K5 B `1 X1 \9 A. e0 c" X( f3 ?# T5 b% X/ g3 q0 x& b5 q2 t3 `* D3 a9 `" k* y! y! A: U, \ @# R7 ?" n! F9 n2 Q/ t% q K' ^$ \4 c$ j: }- m: w6 h( r! y' ^. G' F+ g) P5 x1 |4 J% k4 q7 I8 S9 V3 I* y( y& g' p% T l `9 h/ j+ g% L; R5 k+ }; b* l( z9 @7 A k% e; X% @: n- h9 p# B7 t3 |# z4 G+ P7 k8 }$ u, j. E$ W( b
% R: c1 \" D5 t) k5 K* c
敏感性等级
& \( ~6 h2 \; T4 n1 x
芯片拆封后置放环境条件
! E, d8 O; c7 s3 j6 K* n
拆封后必须使用的期限
8 X* M9 H) X* ]9 g7 F: o
1级
& ?3 c3 Y6 N( |: V: L: |
=< 30 C , < 90% RH
6 \' r' {3 t$ R# D, V2 V6 E
无限制
5 x% D: I8 `7 K: W
2级
; U3 H, O7 U8 L2 ]/ |) r+ S
=< 30 C , < 60% RH
+ K$ h/ W/ F }3 ^& p' `' h3 G
1年
$ n' ~' b! Y/ c' x5 |6 B
3级
5 @: C, k! ?0 g+ O+ |
=< 30 C , < 60% RH
! m* D2 J9 K3 ?3 Z8 s. t5 w6 M1 T
168小时
* n9 O: ~7 M+ U! k
4级
/ m. K2 k) F0 W
=< 30 C , < 60% RH
& n. P* b( x& O5 T: X
72小时
1 o+ _5 p. Q; i3 `3 s4 @- |) t' A
5级
. K5 {+ Z; D m/ u, i1 n- G5 Z
=< 30 C , < 60% RH
$ M3 I6 m! u4 @: R2 F
24小时
! y5 q% i8 e1 }

  CBGA焊球的成分为90Pb/10Sn ?它与PCB连接处的焊锡成分仍为63Sn/37Pb
( u$ U6 B/ U! a( ?$ d
?? CBGA的焊锡球高度较PBGA高,因此它的焊锡溶化温度较PBGA高,较PBGA不容易吸潮,且封装的更牢靠。CBGA芯片底部焊点直径要比PCB上的焊盘大,拆除CBGA芯片后,焊锡不会粘在PCB的焊盘上,见表2。
1 |/ u$ ~# c! l& R0 J. i
表2 PBGA与CBGA焊接锡球的区别
" ^5 t, n- w+ o! o! V/ o" p9 z$ v* M) d* ?9 g# k. \0 X6 P, _; a2 k0 h/ H3 S5 w$ N9 I) {5 d0 n1 k7 d2 Z, P* {, }! X) c+ {5 ^0 D( ^- q5 G$ \, a7 o1 Z. _7 [0 {, n: i) `" N8 f% @5 j2 r9 f8 b. y! h; K! T/ u! ^* o6 \/ H" I0 @ m; j( B) A/ J; J! e+ Z9 N7 d! S$ e# H+ y! T( _; j8 w( e$ ?4 N$ m. ^; m p* x5 C: Z$ S+ r4 ^; Q" d7 Q* S; j8 B- C( i. L/ h+ u) r, d* |/ Z1 w7 d1 J# D& T0 }8 W& j* k) l1 }) D1 C) W# u$ c) d8 `8 D* w1 x* j. R* H! `+ x4 J2 a1 G/ ]9 H* X9 L6 X. A) G& D! c* D- X7 O3 w. S: o% q% h) O! D
特性 PBGA CBGA
焊锡球成分 63Sn/37Pb 90Pb/10Sn
焊锡球溶化温度 183°C 302°C
溶化前焊锡球直径 0.75毫米 0.88毫米
溶化后焊锡球直径 0.4-0.5毫米 0.88毫米
s5 f% J1 @5 k4 u

  CCBGA的焊锡柱直径为0.51毫米,柱高度为2.2毫米,焊锡柱间距一般为1.27毫米,焊锡柱的成分是90Pb/10Sn。
  TBGA的焊锡球直径为0.76毫米,球间距为1.27毫米。与CBGA相比,TBGA对环境温度要求控制严格,因芯片受热时,热张力集中在4个角,焊接时容易有缺陷。
  CSP芯片的封装尺寸仅略大于裸芯片尺寸?不超过20%?,这是CSP与BGA的主要区别。 CSP较BGA,除了体积小之外,还有更短的导电通路、更低的电抗性,更容易达到频率为500MHz-600MHz的范围。
7 A% |/ [5 t) I
  2.2 BGA元器件的特性
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  CCBGA的焊锡柱直径为0.51毫米,柱高度为2.2毫米,焊锡柱间距一般为1.27毫米,焊锡柱的成分是90Pb/10Sn。
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  TBGA的焊锡球直径为0.76毫米,球间距为1.27毫米。与CBGA相比,TBGA对环境温度要求控制严格,因芯片受热时,热张力集中在4个角,焊接时容易有缺陷。
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  CSP芯片的封装尺寸仅略大于裸芯片尺寸?不超过20%?,这是CSP与BGA的主要区别。 CSP较BGA,除了体积小之外,还有更短的导电通路、更低的电抗性,更容易达到频率为500MHz-600MHz的范围。
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  2.2 BGA元器件的特性
+ w- ^: k9 y8 \6 [* Z
  我们可以从不同为304管脚的QFP与BGA芯片的比较上看出BGA的优点:
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  我们可以从不同为304管脚的QFP与BGA芯片的比较上看出BGA的优点:
BGA QFP
  封装尺寸(平方毫米) 525 1600
  脚间距(毫米) 1.27 0.5
  组装损坏率(ppm/管肢) 0.6 100
  元件管脚间信号干扰 1.0X 2.25X
8 q" G$ a0 y$ V- V& R
  概括起来,和QFP相比,BGA的特性主要有以下几点:
6 f, p: z* N. x( \( |
  1〕I/O引线间距大(如1.0,1.27,1.5毫米),可容纳的I/O数目大(如1.27毫米间距的 BGA在25毫米边长的面积上可容纳350个I/O? 而0.5毫米间距的QFP在40毫米边长的面积上只容纳 304个I/O)。
  2〕封装可靠性高(不会损坏管脚),焊点缺陷率低(<1ppm/焊点),焊点牢固。
  3〕QFP芯片的对中通常由操作人员用肉眼来观察,当管脚间距小于0.4毫米时,对中与焊接十分困难。而BGA芯片的脚间距较大,借助对中放大系统,对中与焊接都不困难。
  4〕容易对大尺寸电路板加工丝网板。
  5〕管脚水平面同一性较QFP容易保证? 因为焊锡球在溶化以后可以自动补偿芯片与PCB之间的平面误差。
  6〕回流焊时,焊点之间的张力产生良好的自对中效果?允许有50%的贴片精度误差。
  7〕有较好的电特性,由于引线短,导线的自感和导线间的互感很低,频率特性好。
  8〕能与原有的SMT贴装工艺和设备兼容,原有的丝印机,贴片机和回流焊设备都可使用
  当然,BGA也有缺点,主要是芯片焊接后需X射线检验,另外由于管脚呈球状栏栅状排列,需多层电路板布线,使电路板制造成本增加。
  3 BGA返修工艺
  大多数半导体器件的耐热温度为240?2600C,对于BGA返修系统来说,加热温度和均匀性的控制显得非常重要。美国OK集团的热风回流焊接及返修系统BGA-3592-G/CSP-3502-G和日本M.S.Engineering Co.?Ltd.的MS系列返修工作站很好的解决了这个问题。
9 [* ]) b3 D7 S/ q3 C' l- b6 ?
  本文以美国OK集团的热风回流焊接及返修系统BGA-3592-G 为例简要说明BGA的返修工艺:
v* h! e" t6 d8 j9 [ l- b4 ~- h4 Q7 D
  3.1 电路板、芯片预热
电路板、芯片预热的主要目的是将潮气去除,如果电路板和芯片内的潮气很小(如芯片刚拆封),这一步可以免除。
( e2 Q' u5 q! p& _5 g
  3.2 拆除芯片
. _, I0 {! c [; g/ G9 |$ h6 q
  拆除的芯片如果不打算重新使用,而且PCB可承受高温,拆除芯片可采用较高的温度(较短的加热周期)。
' P# X" t; J' \( V
  3.3 清洁焊盘
8 o! `( C( d( P) C' |1 q
  清洁焊盘主要是将拆除芯片后留在PCB表面的助焊剂、焊锡膏清理掉,必须使用符合要求的清洗剂。为了保证BGA的焊接可靠性,一般不能使用焊盘上旧的残留焊锡膏,必须将旧的焊锡膏清除掉,除非芯片上重新形成BGA焊锡球。由于BGA芯片体积小,特别是CSP(Chip Scale Package或μBGA),芯片体积更小,清洁焊盘比较困难,所以在返修CSP芯片时,如果CSP的周围空间很小,就需使用免清洗焊剂。
1 ] K8 L @( ?) P
  3.4 涂焊锡膏,助焊剂
# x. B6 d/ W! i! f' \& ^8 i) H
  在PCB上涂焊锡膏对于BGA的返修结果有重要影响。通过选用与芯片相符的模板,可以很方便地将焊锡膏涂在电路板上。用OK集团的BGA-3592-G设备微型光学对中系统可以方便地检验焊锡膏是否涂的均匀。处理CSP芯片,有3种焊锡膏可以选择:RMA焊锡膏,非清洗焊锡膏,水剂焊锡膏。使用RMA焊锡膏,回流时间可略长些,使用非清洗焊锡膏,回流温度应选的低些。
$ q+ g0 e1 {$ k% ^. @6 L
  3.5 贴片
; ?8 A$ n. N2 `) e- M
  贴片的主要目的是使BGA芯片上的每一个焊锡球与PCB上每一个对应的焊点对正。由于BGA芯片的焊点位于肉眼不能观测到的部位,所以必须使用专门的设备来对中。BGA-3592-G可进行精确的对中。
$ K+ U9 K7 }% g( \0 |, D8 P& X
  3.6 热风回流焊
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  热风回流焊是整个返修工艺的关键。其中,有几个问题比较重要:
T. A* P7 A! H4 B* o) N1 q- o1 |
  1)芯片返修回流焊的曲线应当与芯片的原始焊接曲线接近,热风回流焊曲线可分成四个区间:预热区,加热区,回流区,冷却区,四个区间的温度,时间参数可以分别设定,通过与计算机连接,可以将这些程序存储和随时调用。
. p6 v4 P; i3 p' I+ N% i
  2)在回流焊过程中要正确选择各区的加热温度和时间,同时应注意升温的速度。一般,在100oC以前,最大的升温速度不超过6 oC/秒,100oC以后最大的升温速度不超过3oC /秒, 在冷却区,最大的冷却速度不超过6oC/秒。因为过高的升温速度和降温速度都可能损坏PCB和芯片,这种损坏有时是肉眼不能观察到的。不同的芯片,不同的焊锡膏,应选择不同的加热温度和时间。如CBGA芯片的回流温度应高于PBGA的回流温度,90Pb/10Sn应较63Sn/37Pb焊锡膏选用更高的回流温度。对免洗焊膏,其活性低于非免洗焊膏,因此,焊接温度不宜过高,焊接时间不宜过长,以防止焊锡颗粒的氧化。
2 c5 F+ C. v$ ^" w
  3)热风回流焊中,PCB板的底部必须能够加热。这种加热的目的有二个:避免由于PCB板的单面受热而产生翘曲和变形;使焊锡膏溶化的时间缩短。对大尺寸板返修BGA,这种底部加热尤其重要。BGA-3592-G返修设备的底部加热方式有2种,一种是热风加热,一种是红外加热。热风加热的优点是加热均匀,一般返修工艺建议采用这种加热。红外加热的缺点是PCB受热不均匀。
4 F& F# {# l: v; J! ?
  4)要选择好的热风回流喷嘴。热风回流喷嘴属于非接触式加热,加热时依靠高温空气流使BGA芯片上的各焊点的焊锡同时溶化。美国OK集团首先发明这种喷嘴,它将BGA元件密封,保证在整个回流过程中有稳定的温度环境,同时可保护相邻元件不被对流热空气加热损坏(如图1所示)。
" z2 k& {( Z; |
  4 结束语
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  在电子产品尤其是电脑与通信类电子产品的生产领域,元器件向微小型化、多功能化、绿色化发展,各式封装技术不断涌现,BGA/CSP是当今封装技术的主流。BGA/CSP元器件的优势在于进一步提高元器件的集成度,并缩小其封装尺寸,因而提高了高密度贴装技术的水平,十分适合电子产品轻、薄、短、小及功能多样化的发展方向。
. W1 B9 |0 ]' m5 v
  为满足迅速增长的对BGA元器件电路板组装需求和生产者对丝网印刷、对中贴片和焊接过程控制精度的要求,提高BGA的组装焊接及返修质量,需选择更安全、更快、更便捷的组装与返修设备及工艺。【MechNet】

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